MINITEST 3100 EPK統計型(xing)高(gao)精(jing)度涂(tu)鍍層(ceng)測厚儀(yi)

MINITEST 3100 EPK統計型涂鍍層測厚儀用于測量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）：

• 鋼鐵基(ji)體(ti)上的非(fei)磁性覆層

• 有(you)色金屬上的絕(jue)緣覆層

• 絕緣基體上的有色金屬覆層

MINITEST 3100 EPK統計型涂鍍層測厚儀特點：

所有型號均可配(pei)所有探頭；

可(ke)通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算(suan)機；

可使用一(yi)片或二(er)片標準箔校準

 MINITEST 3100 EPK統計型涂鍍層測厚(hou)儀(yi)功能

MINITEST3100存儲(chu)的數據量

應用(yong)行數(根據(ju)不同探頭或測試條件而記憶的(de)校準基礎數(shu)據(ju)數(shu))                   10   

每個應用行下的組(BATCH)數(對組(zu)內(nei)數據自動統計，并可設寬容度極限(xian)值(zhi))     10可用(yong)各自(zi)的日期和(he)時間標(biao)識特性(xing)的組數                     500 

數據(ju)總量                     10000    

MINITEST3100統計(ji)計(ji)算功能(neng)

讀數的(de)六種統計(ji)值x,s,n,max,min,kvar                            √    

讀數的八(ba)種(zhong)統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk                √   

組(zu)統(tong)計值六種x,s,n,max,min,kvar                                √    

組統計(ji)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk                    √   

分組打印以上顯示和存儲的數據和統(tong)計值(zhi)                         √   

顯示并打(da)印(yin)測量值、打(da)印(yin)的日期和時間                          √   

其他功能

透過涂層進行校準(CTC)                       √   

在粗(cu)糙(cao)表面上作(zuo)平(ping)均零校準                         √   

利用計算(suan)機進行基礎(chu)校準                      √   

補償一(yi)個常數(shu)(Offset)                         √   

外(wai)設的讀(du)值傳輸存儲功能                      √   

保(bao)護并鎖定校準設置(zhi)                          √   

更換(huan)電(dian)池是(shi)存儲數值(zhi)                          √   

設置極(ji)限值                                     √    

公英(ying)制(zhi)轉換                                     √    

連續測量模(mo)式快速(su)測量，通過模(mo)擬柱識別zui大(da)zui小值                  √   

連續測量(liang)模式中測量(liang)穩(wen)定(ding)后顯示(shi)讀數                     √   

浮點(dian)和(he)定(ding)點(dian)方式數(shu)據傳送                       √ 

組內單值延遲(chi)顯示(shi)                                 √   

連續測量(liang)模式中(zhong)顯(xian)示zui小值                          √ 

MINITEST 3100 EPK統計(ji)型涂鍍(du)層測厚儀可選探頭參數(探頭圖示)

在選擇zui適用的(de)探頭時需要考(kao)慮(lv)覆層厚度，基體材料以及基體的(de)形狀、厚度、大小、幾何尺(chi)寸等因素。
F型探頭(tou)：測量鋼鐵(tie)基體(ti)上的非(fei)磁性覆層 
N型探頭：測量(liang)有色金屬基體上的(de)絕(jue)緣(yuan)覆層 
FN兩(liang)用探頭：同時(shi)具備F型(xing)和N性探頭的功能(neng)

注：       F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探(tan)頭，用于管內(nei)測量。

N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適(shi)合銅上(shang)鉻(ge)。

CN02用(yong)于絕緣體(ti)上(shang)的(de)有(you)色金屬覆層。

MINITEST 2100 EPK涂鍍層(ceng)測厚儀探頭圖示

FN1.6

0～1600μm,φ5mm

兩(liang)用測(ce)頭，可測(ce)銅鐵基(ji)體(ti)上的(de)非磁(ci)性覆(fu)層與有色金(jin)屬(shu) 基體(ti)上的絕緣覆層

量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P

0～1600μm,φ30mm

兩用(yong)測頭， 特別適(shi)合測粉末狀的覆層厚度

F05

0～500μm,φ3mm

磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體(ti)(ti)的薄覆層，如(ru)金屬鍍(du)層，氧化層等

量程(cheng)低端分辨宰很高(0.1μm)

F1.6

0～1600μm,φ5mm

磁性測頭

量程低端分辨率(lv)很高(0.1μm)

F3

0～3000μm,φ5mm

磁性測(ce)頭

可用于較(jiao)厚的覆層(ceng)

F1.6/90

0～1600μm,φ5mm

90度磁性測頭

尤其適合于在(zai)管內壁(bi)測量

量程低(di)端分辨率很高(0.1μm)

F10

0～10mm,φ20mm

適(shi)合測量鋼結構(如(ru)水箱、管(guan)道等)上的防(fang)腐覆(fu)層(ceng)，如玻璃、塑(su)膠(jiao)、混凝土(tu)等

F20

0～20mm,φ40mm

適合測量鋼結構(gou)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等

F50

0～50mm,φ300mm

適合測量鋼結構(如(ru)水箱、管道等)上的防腐覆(fu)層的隔音覆(fu)層

N02

0～200μm,φ2mm

非磁性測頭，尤其適(shi)合測量有(you)色(se)金屬基體上的氧(yang)化層等很薄的絕緣覆層

量程低端分辨率很高(gao)(0.1μm)

N0.8Cr

0～80μm,φ2mm

適用于測量銅、鋁、黃銅上的極(ji)薄鍍鉻層

N1.6

0～1600μm,φ2mm

非磁性測頭，適于測量有色金屬(shu)基體(ti)上的(de)較薄的(de)絕緣覆層

量程(cheng)低端(duan)分辨率很高(0.1μm)

N1.6/90

0～1600μm,φ5mm

磁性測(ce)頭，適于測(ce)量較(jiao)薄(bo)的絕緣覆(fu)層

尤其適合在管內壁測(ce)量

量程(cheng)低端分辨率很高(gao)(0.1μm)

N10

0～10mm,φ50mm

非磁(ci)性(xing)測(ce)頭，適于測(ce)量(liang)較(jiao)厚的絕(jue)緣覆層，如橡膠(jiao)玻璃等

N20

0～20mm,φ70mm

非磁(ci)性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如(ru)橡(xiang)膠玻璃(li)等

N100

0～100mm,200mm

非磁性測(ce)頭，適(shi)于(yu)測(ce)量較厚的絕緣覆層，如橡(xiang)膠玻璃等

CN02

10～200μm,φ7mm

用(yong)于測量絕緣材料上的有色金屬覆層(ceng)，如覆銅板