MINITEST 4100高精(jing)度涂鍍層測厚儀

MINITEST 4100涂鍍層測厚儀除了1100，2100,3100的功能外，增(zeng)加了計算統計功能。

MINITEST 4100涂鍍層測厚儀用于測量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）：

• 鋼鐵基(ji)體上的非磁性覆層

• 有色金屬上的絕緣覆(fu)層

• 絕緣基體(ti)上的有色(se)金屬覆(fu)層

MiniTest4100涂鍍層測厚儀(yi)特點：

所有(you)型號均(jun)可配所有(you)探頭；

可通(tong)過(guo)RS232接口(kou)連接MiniPrint打(da)印機(ji)(ji)和(he)計算機(ji)(ji)；

可使用一片或二片標(biao)準箔(bo)校準

MiniTest4100涂層測厚儀功能：

MINITEST4100存儲的(de)數據量

應用行數(shu)(根據不同探頭或測試條件而記憶(yi)的校準基礎數據數)                          99

每(mei)個應用(yong)行下的組(zu)(BATCH)數(對組(zu)內數(shu)據自動統計，并(bing)可設(she)寬容度極限值(zhi))     99

可用各(ge)自的日期和時間標(biao)識特性(xing)的組(zu)數                         500

數據總量                            10000

MINITEST4100統(tong)計計算功能：

讀數的六種(zhong)統計值x,s,n,max,min,kvar                                √

讀數(shu)的(de)八種(zhong)統計值(zhi)x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk                √

組(zu)統(tong)計值六種x,s,n,max,min,kvar                                   √

組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk                       √

存儲顯示每一個應用行下的所有組(zu)內數據(ju)                            √

分(fen)組打印以(yi)上顯示和存儲的數據和統計值                            √

顯示(shi)并(bing)打(da)印測(ce)量值(zhi)、打(da)印的(de)日期和(he)時間(jian)                             √

其他功(gong)能

透過涂層進行校準(CTC)                          √

在(zai)粗糙表面上作平均(jun)零(ling)校(xiao)準                            √

利(li)用計(ji)算機進行基(ji)礎(chu)校準                         √

補(bu)償一個常(chang)數(shu)(Offset)                           √

外設的讀值傳輸存(cun)儲功(gong)能(neng)                         √

保護并鎖(suo)定校準設置                            √

更換電池是存儲(chu)數(shu)值                            √

設置極(ji)限(xian)值                                       √

公英制轉(zhuan)換                                       √

連(lian)續測量(liang)模式快(kuai)速測量(liang)，通過模擬柱識別zui大zui小值                         √

連續(xu)測量(liang)模式中測量(liang)穩定后顯示讀數(shu)       √

浮點和定(ding)點方式數據傳送                         √

組內單值延遲顯示(shi)                                   √

連續測(ce)量模式(shi)中顯(xian)示zui小值                            √

MiniTest4100涂層測厚儀可(ke)選(xuan)探頭參數(探頭(tou)圖示(shi))

在(zai)選擇zui適用的探(tan)頭時需要考慮覆層厚(hou)度，基(ji)體材料以及基(ji)體的形(xing)狀(zhuang)、厚(hou)度、大(da)小、幾何尺寸(cun)等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基(ji)體(ti)(ti)上的(de)非磁性覆層 
N型探頭：測量(liang)有色金屬(shu)基體上的絕緣覆層 
FN兩用探頭：同(tong)時具備(bei)F型(xing)和N性(xing)探頭的功能

注(zhu)：       F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于(yu)管內測(ce)量。

N.08Cr適(shi)合銅上鉻，FN2也適合銅(tong)上鉻。

CN02用于絕(jue)緣(yuan)體上的有色金(jin)屬覆層。

MINITEST 2100 EPK涂鍍層測(ce)厚儀探(tan)頭(tou)圖示

FN1.6

0～1600μm,φ5mm

兩用測(ce)頭(tou)，可(ke)測(ce)銅鐵基(ji)體(ti)上的非磁性(xing)覆(fu)層與有色金(jin)屬(shu) 基體(ti)上的(de)絕緣覆層

量程低端(duan)分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P

0～1600μm,φ30mm

兩(liang)用測頭(tou)， 特別(bie)適合測粉末狀的覆層(ceng)厚度

F05

0～500μm,φ3mm

磁性(xing)測頭，適于測量(liang)細小鋼鐵物體的(de)薄覆層，如金屬鍍(du)層，氧化層等

量(liang)程低(di)端分(fen)辨宰(zai)很(hen)高(0.1μm)

F1.6

0～1600μm,φ5mm

磁性測頭

量程低端分辨率很高(gao)(0.1μm)

F3

0～3000μm,φ5mm

磁性(xing)測頭

可用于(yu)較厚的覆層

F1.6/90

0～1600μm,φ5mm

90度磁性測頭

尤(you)其適合于(yu)在管內(nei)壁測(ce)量

量(liang)程(cheng)低端(duan)分辨率很高(0.1μm)

F10

0～10mm,φ20mm

適(shi)合測量(liang)鋼結構(如水箱、管道(dao)等)上的防腐(fu)覆層，如玻璃(li)、塑膠、混(hun)凝土等(deng)

F20

0～20mm,φ40mm

適合(he)測量鋼結構(如(ru)水箱(xiang)、管道等)上(shang)的防腐覆層(ceng)，如玻璃、塑(su)膠、混凝土等

F50

0～50mm,φ300mm

適(shi)合測量鋼結構(如水箱、管(guan)道等)上的防腐(fu)覆(fu)層的隔音覆(fu)層

N02

0～200μm,φ2mm

非磁性測(ce)頭，尤(you)其適(shi)合(he)測(ce)量有色金屬(shu)基體(ti)(ti)上(shang)的(de)氧化層等很(hen)薄的(de)絕緣覆層

量程低(di)端分辨(bian)率很高(0.1μm)

N0.8Cr

0～80μm,φ2mm

適用于(yu)測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

N1.6

0～1600μm,φ2mm

非磁性(xing)測頭，適(shi)于測量(liang)有色金屬基體上的較薄的絕緣(yuan)覆層

量程低端分辨率(lv)很高(0.1μm)

N1.6/90

0～1600μm,φ5mm

磁性測頭(tou)，適(shi)于測量(liang)較薄的絕緣覆層(ceng)

尤(you)其適合(he)在管(guan)內壁測(ce)量(liang)

量程(cheng)低端分辨率(lv)很高(0.1μm)

N10

0～10mm,φ50mm

非(fei)磁性測頭，適于測量較(jiao)厚的絕緣(yuan)覆層，如橡膠玻(bo)璃等

N20

0～20mm,φ70mm

非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

N100

0～100mm,200mm

非磁(ci)性(xing)測(ce)頭，適于測(ce)量較厚的(de)絕緣覆(fu)層(ceng)，如橡(xiang)膠(jiao)玻璃等

CN02

10～200μm,φ7mm

用于測量絕緣材(cai)料上的有色金(jin)屬覆層，如覆銅(tong)板