MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚儀

MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚儀用于測量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）：

• 鋼(gang)鐵基體上的(de)非(fei)磁性覆層(ceng)

• 有(you)色金(jin)屬上(shang)的(de)絕緣覆層(ceng)

• 絕緣(yuan)基(ji)體上的有色金屬覆(fu)層

所有(you)型號均可配(pei)所有(you)探頭；

可通過RS232接(jie)口連接(jie)MiniPrint打印機(ji)(ji)和(he)計(ji)算機(ji)(ji)；

可使用一片(pian)或二(er)片(pian)標準(zhun)(zhun)箔(bo)校準(zhun)(zhun)

 MINITEST 2100 EPK涂鍍(du)層測厚儀功能 

MINITEST 2100存儲的(de)數據量

應用(yong)行數(根據不同探(tan)頭(tou)或測試條件而記憶的校準(zhun)基礎數據數)            1           

每個應用行下的組(BATCH)數(對組內(nei)數據自動(dong)統計，并可設寬容度(du)極限值(zhi))  1

可用各自的(de)日期和時間(jian)標(biao)識特性的(de)組數           1           

數據總量              10000           

MINITEST2100統計(ji)計(ji)算功能(neng)

讀數的六種統計(ji)值x,s,n,max,min,kvar              √          

顯示并打印測量值、打印的日(ri)期和時間           √          

其他(ta)功(gong)能

透過涂層進行校(xiao)準(CTC)            √          

在(zai)粗糙表(biao)面上作平均零(ling)校準              √          

利用計算機(ji)進行基礎校準           √          

外設的讀值傳輸存儲功能           √          

保護并鎖定校準設置               √      ;    

更換電池(chi)是(shi)存儲數值               √          

公(gong)英制(zhi)轉換                         √             

浮點和定點方式數據(ju)傳送           √          

組內(nei)單值延遲顯示                     √           

連(lian)續測量模式中顯示zui小值              √          

MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚(hou)儀可選探頭參數(探頭圖示)：

在(zai)選(xuan)擇zui適(shi)用的探頭時需要考(kao)慮覆(fu)層厚度，基(ji)體(ti)(ti)材料以及(ji)基(ji)體(ti)(ti)的形(xing)狀(zhuang)、厚度、大小、幾何尺(chi)寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵(tie)基體(ti)上的非磁性覆(fu)層(ceng) 
N型探頭：測(ce)量有色金(jin)屬基(ji)體上(shang)的絕緣覆(fu)層 
FN兩(liang)用(yong)探(tan)頭：同時具備F型和N性探頭的功能(neng)

注： F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探(tan)頭，用于管內測量。

N.08Cr適(shi)合(he)銅上鉻，FN2也適(shi)合銅上鉻。

CN02用于絕緣體(ti)上的有色金屬覆層。

MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚儀探頭圖示

FN1.6

0～1600μm,φ5mm

兩(liang)用測頭，可(ke)測銅鐵基體上的非磁性覆層與(yu)有(you)色金屬 基體上(shang)的(de)絕緣覆(fu)層(ceng)

量程低(di)端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P

0～1600μm,φ30mm

兩用測頭， 特別適合測粉末狀的(de)覆層厚(hou)度(du)

F05

0～500μm,φ3mm

磁性測(ce)頭，適于(yu)測(ce)量細(xi)小鋼(gang)鐵物體的薄覆層，如金屬(shu)鍍層，氧(yang)化層等(deng)

量程低端(duan)分辨宰很高(0.1μm)

F1.6

0～1600μm,φ5mm

磁性測頭(tou)

量程低(di)端分辨率很(hen)高(0.1μm)

F3

0～3000μm,φ5mm

磁(ci)性測頭

可用于較厚的覆(fu)層

F1.6/90

0～1600μm,φ5mm

90度磁(ci)性測(ce)頭

尤其適合于在管內壁測(ce)量

量程低(di)端分辨率很高(gao)(0.1μm)

F10

0～10mm,φ20mm

適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上(shang)的防腐覆(fu)層，如玻璃、塑膠、混凝土等

F20

0～20mm,φ40mm

適合測量鋼結構(如(ru)水箱(xiang)、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混(hun)凝土等

F50

0～50mm,φ300mm

適(shi)合測(ce)量(liang)鋼結(jie)構(如水箱、管道等(deng))上(shang)的防腐覆(fu)層的隔音(yin)覆(fu)層

N02

0～200μm,φ2mm

非磁性測頭，尤其(qi)適合測量有色金屬基體(ti)上的(de)氧化層等很薄的(de)絕(jue)緣覆層

量程低端分(fen)辨率很(hen)高(0.1μm)

N0.8Cr

0～80μm,φ2mm

適(shi)用于測量銅(tong)、鋁、黃銅(tong)上的極薄鍍鉻層

N1.6

0～1600μm,φ2mm

非磁性測(ce)頭(tou)，適于測(ce)量有(you)色金屬基(ji)體上的較薄(bo)的絕緣覆層

量(liang)程低(di)端(duan)分辨率(lv)很高(0.1μm)

N1.6/90

0～1600μm,φ5mm

磁性(xing)測(ce)頭，適(shi)于(yu)測(ce)量較薄的絕緣覆層

尤其(qi)適合(he)在(zai)管內(nei)壁測量

量程低端(duan)分(fen)辨率很高(gao)(0.1μm)

N10

0～10mm,φ50mm

非(fei)磁性測頭(tou)，適于(yu)測量較厚的絕緣覆層，如橡(xiang)膠玻璃等

N20

0～20mm,φ70mm

非磁性(xing)測頭，適于測量較(jiao)厚的絕緣覆(fu)層，如橡(xiang)膠玻璃等

N100

0～100mm,200mm

非磁性(xing)測(ce)頭，適于測(ce)量較厚(hou)的絕緣覆(fu)層，如橡膠(jiao)玻璃等

CN02

10～200μm,φ7mm

用于(yu)測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如(ru)覆銅板

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