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產品名稱:EPK涂鍍(du)層測厚儀

產品型號:MINITEST 1100

更新時間:2023-12-01

產品特點:MINITEST 1100 EPK涂(tu)鍍層(ceng)(ceng)測(ce)厚儀用于測(ce)量以下覆(fu)層(ceng)(ceng)(覆(fu)層(ceng)(ceng)包括涂(tu)層(ceng)(ceng),鍍層(ceng)(ceng)等(deng)):鋼鐵基(ji)體(ti)上的(de)非(fei)磁性覆(fu)層(ceng)(ceng),有色金屬上的(de)絕緣(yuan)覆(fu)層(ceng)(ceng),絕緣(yuan)基(ji)體(ti)上的(de)有色金屬覆(fu)層(ceng)(ceng),有十多種探頭(tou)可配。

MINITEST 1100EPK涂鍍層測厚儀的詳細資料:

MINITEST 1100 EPK涂鍍層(ceng)測厚儀

MINITEST 1100 EPK涂(tu)鍍層(ceng)測厚儀由無錫君(jun)(jun)達代理銷售,無錫君(jun)(jun)達儀器公司批(pi)發、零售、*MINITEST 1100 EPK涂鍍層(ceng)測厚(hou)儀,如要購(gou)買采(cai)購(gou)或對MINITEST 1100 EPK涂鍍層測厚儀產品感(gan)興趣,歡迎(ying)撥MINITEST 1100 EPK涂鍍層(ceng)測厚儀代理(li)商咨詢。

 MINITEST 1100 EPK涂鍍層測厚儀用于測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):鋼鐵基體上的非磁性覆層,有色金屬上的絕緣覆層,絕緣基體上的有色金屬覆層,有十多種探頭可配。

 

MINITEST 1100 EPK涂鍍(du)層(ceng)測厚儀特點:

所(suo)有型號(hao)均(jun)可配所(suo)有探頭;

可通過RS232接口連接MiniPrint打(da)印機(ji)和(he)計(ji)算機(ji);

可使用一片或(huo)二片標(biao)準箔校準

 

MINITEST 1100 EPK涂(tu)鍍層測厚儀功能(neng):

MINITEST 1100存儲的數據(ju)量(liang)

應用(yong)行數(根據(ju)不(bu)同探頭(tou)或測試條(tiao)件而記(ji)憶(yi)的校準基礎數(shu)據(ju)數(shu))     1                  

數據總量       1                  

其他功能

在粗糙表面上作平均零校(xiao)準                             

利用計算機進行基礎校準                          

保護并鎖定校準設置             ;                 ;

更換電池(chi)是存儲數值                              

公英制(zhi)轉(zhuan)換                                  ;   

浮點(dian)和定點(dian)方式數據傳送                 ;        

連續測量模式(shi)中顯示zui小(xiao)值(zhi)                            

 

MINITEST 1100 EPK涂鍍層測厚儀(yi)可(ke)選(xuan)探頭選(xuan)擇注意事項:

在(zai)選擇zui適用的(de)(de)探頭時需要考慮覆(fu)層厚(hou)度,基(ji)體材料(liao)以及(ji)基(ji)體的(de)(de)形狀、厚(hou)度、大小、幾何尺(chi)寸等(deng)因(yin)素。
F型探(tan)頭:測量鋼鐵基體上的非磁性(xing)覆層 
N型探頭:測量有色金屬基體上(shang)的絕緣覆層 
FN兩用探(tan)頭:同時具(ju)備F型和N性探頭的功能(neng)

探頭(tou)

量程

低端
分辨率

誤差(cha)

zui小(xiao)曲(qu)率
半徑(/)

zui小測量(liang)
區(qu)域直(zhi)徑

zui小(xiao)基(ji)
體厚度

探(tan)頭尺寸




F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm


FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm
N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面(mian)

30mm

F0.5mm
N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm
N50μm

φ15x62mm




N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平(ping)面

7mm

無限制

φ17x80mm

 

注:F1.6/90F2/90N1.6/90N2/90為直角探頭,用于管內測量。

       N.08Cr適(shi)合銅上鉻,FN2也適合銅(tong)上(shang)鉻。

      CN02用于絕(jue)緣體上的有色金(jin)屬覆層。

 

MINITEST 1100 EPK涂鍍層測(ce)厚儀(yi)探頭圖(tu)示:

MINITEST 1100 EPK涂鍍(du)層測厚儀探頭FN1.6

01600μm,φ5mm

兩用測(ce)頭,可(ke)測(ce)銅鐵基體(ti)上(shang)的非(fei)磁性覆層與(yu)有色金屬 基體上的絕緣覆層(ceng)

量程低端分辨率很高(0.1μm)

 

 

MINITEST 1100 EPK涂(tu)鍍層測厚儀(yi)探頭FN1.6P

01600μm,φ30mm

兩用測(ce)頭, 特(te)別適合測(ce)粉(fen)末狀的覆層厚度(du)

 

 

F05

0500μm,φ3mm

磁性測頭,適于測量細小鋼(gang)鐵物(wu)體的薄覆層(ceng),如金屬鍍層(ceng),氧化層(ceng)等

量程低端分辨宰很高(gao)(0.1μm)

 

F1.6

01600μm,φ5mm

磁(ci)性測頭(tou)

量程低端(duan)分辨率很(hen)高(0.1μm)

 

F3

03000μm,φ5mm

磁性(xing)測頭

可用于較厚的覆(fu)層

 

F1.6/90

01600μm,φ5mm

90度磁性(xing)測頭

尤(you)其(qi)適合于在(zai)管(guan)內(nei)壁測量

量程低(di)端分辨率很(hen)高(0.1μm)

 

F10

010mm,φ20mm

適合測量鋼(gang)結構(如水箱、管道(dao)等)上的防(fang)腐覆層,如(ru)玻璃(li)、塑膠、混凝土等(deng)

 

 

F20

020mm,φ40mm

適合測量(liang)鋼結構(如水箱、管道(dao)等)上的防(fang)腐覆層(ceng),如玻璃(li)、塑膠、混凝土(tu)等

 

F50

050mm,φ300mm

適合(he)測量鋼結構(gou)(如水箱(xiang)、管(guan)道等)上的(de)防腐覆層(ceng)的(de)隔(ge)音覆層(ceng)

 

N02

0200μm,φ2mm

非(fei)磁(ci)性測頭,尤其(qi)適合測量(liang)有色(se)金屬基體(ti)上的氧化層(ceng)等很(hen)薄(bo)的絕緣覆(fu)層(ceng)

量程低端分(fen)辨率(lv)很(hen)高(0.1μm)

 

 

N0.8Cr

080μm,φ2mm

適用于(yu)測量(liang)銅、鋁、黃(huang)銅上的(de)極薄鍍鉻(ge)層

 

N1.6

01600μm,φ2mm

非磁性(xing)測頭,適于測量有色金屬基體(ti)上的較(jiao)薄的絕緣覆層

量(liang)程低端分辨(bian)率很高(0.1μm)

 

N1.6/90

01600μm,φ5mm

磁(ci)性(xing)測頭,適于測量較薄的絕(jue)緣覆層

尤(you)其適合在(zai)管內壁測量

量(liang)程低端分(fen)辨率很高(0.1μm)

 

N10

010mm,φ50mm

非磁性測頭,適于(yu)測量較厚(hou)的絕緣覆層,如橡膠玻(bo)璃等

 

 

N20

020mm,φ70mm

非磁性測(ce)頭,適于測(ce)量較(jiao)厚的絕緣覆層(ceng),如(ru)橡(xiang)膠玻(bo)璃等(deng)

 

N100

0100mm,200mm

非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

 

CN02

10200μm,φ7mm

用于測(ce)量絕(jue)緣材料(liao)上的有(you)色金(jin)屬覆(fu)層,如覆(fu)銅板(ban)

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