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PosiTest DFT 涂層測厚儀
PosiTest DFT 涂(tu)層(ceng)測(ce)厚儀-美國(guo)DeFelsko公司(si) 美國(guo)DeFelsko公司(si)PosiTest DFT涂(tu)層(ceng)測(ce)厚儀系列(lie)包括PosiTest DFT-F涂(tu)層(ceng)測(ce)厚儀和PosiTest DFT-COMBO涂(tu)層(ceng)測(ce)厚儀。
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PosiTector6000涂層測厚儀
PosiTector6000涂層(ceng)測厚儀-美(mei)(mei)國DeFelsko公(gong)司(si)(si) 美(mei)(mei)國DeFelsko公(gong)司(si)(si)新的(de)PosiTector6000系列(lie)涂鍍層(ceng)測厚儀 特點
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PosiTector200超聲波涂層測厚儀
PosiTector200超聲波(bo)涂層(ceng)(ceng)測厚(hou)儀(yi)-美(mei)國DeFelsko公司 美(mei)國DeFelsko公司經(jing)濟實用,方便快捷,可無(wu)損測量多種涂層(ceng)(ceng)的厚(hou)度(du),包括木材、混凝土等的表面涂層(ceng)(ceng)。
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MikroTest F6涂層測厚儀
MikroTest F6涂層(ceng)(ceng)測厚儀(yi)-德(de)(de)國麥考特 德(de)(de)國EPK(Elektrophysik)公司 MikroTest F6系列覆層(ceng)(ceng)測厚儀(yi),測量鋼鐵上所有非(fei)磁性(xing)涂鍍層(ceng)(ceng)厚度(du)(du)(如油漆、粉末(mo)涂層(ceng)(ceng)、塑料、橡膠、鋅(xin)、銅、錫和鎳等)。測量快速、精確、無損。三十多年來 MikroTest F6已成為被廣泛應用的自動(dong)測定涂鍍層(ceng)(ceng)厚度(du)(du)的儀(yi)器。
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MikroTest G6涂層測厚儀
MikroTest G6涂(tu)層測厚(hou)儀-德國麥考特 德國EPK(Elektrophysik)公司 MikroTest G6系(xi)列覆層測厚(hou)儀,測量鋼鐵上所有非磁(ci)性涂(tu)鍍(du)層厚(hou)度(du)(如油(you)漆、粉末涂(tu)層、塑料、橡膠、鋅、銅(tong)、錫和鎳等)。測量快速(su)、精確、無損。三(san)十多年(nian)來 MikroTest G6已成(cheng)為被廣泛(fan)應用的自動(dong)測定(ding)涂(tu)鍍(du)層厚(hou)度(du)的儀器。
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MiniTest 600BFN涂鍍層測厚儀
MiniTest 600BFN涂鍍層(ceng)測(ce)厚(hou)儀-德國EPK公司(si)(si) 德國EPK(Elektrophysik)公司(si)(si)MiniTest600BFN系列涂鍍層(ceng)測(ce)厚(hou)儀一(yi)直致力于開發和生(sheng)產各種用于表(biao)面處(chu)理行業的精密(mi)測(ce)量儀器。德國EPK公司(si)(si)MiniTest600BFN作為無損涂層(ceng)厚(hou)度測(ce)量領域的,EPK公司(si)(si)與各標(biao)準化(hua)組織(zhi)和研究(jiu)院(yuan)一(yi)道,成(cheng)功地推(tui)進了涂層(ceng)厚(hou)度測(ce)量在世界(jie)范圍內的標(biao)準化(hua)進程。
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MINITEST 720涂鍍層測厚儀
MINITEST 720涂(tu)鍍層測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀-德(de)國EPK公司 MINITEST 720/730/740涂(tu)層測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀可(ke)以(yi)讓您(nin)輕松變換測(ce)(ce)(ce)量(liang)需求(qiu)。在對精度(du)要求(qiu)不高的(de)條(tiao)件(jian)下(xia),您(nin)可(ke)以(yi)短時間測(ce)(ce)(ce)量(liang)大量(liang)數值(zhi);也可(ke)以(yi)只測(ce)(ce)(ce)量(liang)少(shao)數幾個(ge)數值(zhi),但要求(qiu)精度(du)很高,您(nin)只需選擇相應的(de)模式就可(ke)以(yi)做到
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MINITEST 740涂鍍層測厚儀
MINITEST 740涂鍍(du)層測(ce)厚(hou)儀-德(de)(de)國EPK公司(si) 德(de)(de)國EPK公司(si) minitest 740涂鍍(du)層測(ce)厚(hou)儀有(you)8種探(tan)(tan)頭(tou)型(xing)號:訂(ding)購 MINITEST 740涂層測(ce)厚(hou)儀需要選配下面探(tan)(tan)頭(tou)注意;探(tan)(tan)頭(tou)連(lian)接線選配(外置);
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MINITEST 730涂層測厚儀
MINITEST 730涂層測厚(hou)儀-德國EPK公司 及SIDSP 新(xin)的(de)MINITEST 700產品線,加強了EPK在涂層測厚(hou)市(shi)場的(de). 有了新(xin)的(de)SIDSP F型探頭(tou)(測量鐵(tie)基體(ti)(ti))和(he)N型探頭(tou)(測量非鐵(tie)基體(ti)(ti)),您(nin)可享受到高(gao)精確度和(he)高(gao)重現(xian)性帶給(gei)您(nin)的(de)優勢和(he)便利。
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MiniTest 4100涂鍍層測厚儀
MiniTest 4100涂鍍層(ceng)測厚(hou)(hou)儀-德(de)國EPK公司 MiniTest4100涂層(ceng)測厚(hou)(hou)儀可選(xuan)探頭(tou)參數( 探頭(tou)圖(tu)示) 所有探頭(tou)都可配合任一主機使用。在選(xuan)擇(ze)Z適用的(de)探頭(tou)時需要考慮(lv)覆(fu)層(ceng)厚(hou)(hou)度(du),基(ji)(ji)體材(cai)料(liao)以(yi)及基(ji)(ji)體的(de)形狀、厚(hou)(hou)度(du)、大小、幾何尺寸等(deng)因素。
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MiniTest3100涂鍍層測厚儀
MiniTest3100涂(tu)鍍層測厚(hou)儀-德國(guo)EPK公(gong)司(si) 德國(guo)EPK(Elektrophysik)公(gong)司(si)MiniTest1100/2100/3100/4100涂(tu)鍍層測厚(hou)儀特點: MiniTest1100/2100/3100/4100包括(kuo)四(si)種不同的(de)(de)主機(ji),各自具有(you)(you)(you)不同的(de)(de)數據處理功(gong)能; 所有(you)(you)(you)型(xing)號均可配所有(you)(you)(you)探(tan)頭;
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MiniTest 1100涂鍍層測厚儀-
MiniTest 1100涂鍍層測厚(hou)儀-德國EPK公(gong)司(si) 德國EPK(Elektrophysik)公(gong)司(si)MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚(hou)儀特(te)點(dian): MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不(bu)同(tong)的(de)主(zhu)機,各自具有(you)不(bu)同(tong)的(de)數據處理功能; 所(suo)有(you)型號均可配所(suo)有(you)探頭;
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MiniTest2100涂鍍層測厚儀
MiniTest2100涂(tu)鍍(du)層測厚(hou)儀(yi)-德(de)國(guo)EPK公(gong)司 德(de)國(guo)EPK(Elektrophysik)公(gong)司MiniTest1100/2100/3100/4100涂(tu)鍍(du)層測厚(hou)儀(yi)特(te)點: MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shu)據處理功能; 所有型號均可(ke)配所有探頭;
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QUINTSONIC超聲涂層測厚儀
QUINTSONIC超(chao)聲涂(tu)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)-德(de)國EPK公司(si) quintsonic涂(tu)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)是*一種無損的、能(neng)方便、快捷、測(ce)量(liang)(liang)非金屬(shu)材料(liao)上各涂(tu)層(ceng)厚(hou)度的儀(yi)器(qi)。而此(ci)前(qian),這類涂(tu)層(ceng)只能(neng)有損測(ce)量(liang)(liang)。
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筆式和迷你筆式測厚儀
筆(bi)式和迷你(ni)筆(bi)式測厚儀(yi)-德國EPK公司 筆(bi)式測厚儀(yi)測量(liang)鐵(tie)基體上(shang)的非磁(ci)性涂(tu)層(ceng) 經濟實用 測量(liang)準確 應用磁(ci)吸力原理(li) 永性磁(ci)頭(tou)
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PIG455多用途干膜檢驗儀
PIG455多用途干膜檢(jian)驗儀-德(de)國ERICHSEN公司(si) 德(de)國ERICHSEN公司(si)測(ce)試原理: 455測(ce)量(liang)基(ji)于(yu)標準楔形切(qie)割(ge)(ge)(ge)程序:涂層(ceng)(ceng)以(yi)一個定義的(de)(de)角度(du)被(bei)劃破到(dao)基(ji)材,涂層(ceng)(ceng)的(de)(de)厚度(du)(s)根據切(qie)割(ge)(ge)(ge)面(mian)的(de)(de)三角形投(tou)影(b)計(ji)算出(chu)(chu)來(lai),這由一個顯微(wei)鏡和(he)切(qie)割(ge)(ge)(ge)角(а)決(jue)定。依(yi)據相同的(de)(de)原理,多層(ceng)(ceng)涂層(ceng)(ceng)系統(tong)的(de)(de)每層(ceng)(ceng)涂層(ceng)(ceng)厚度(du)也可計(ji)算出(chu)(chu)來(lai),
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