產品名稱：TH2661四探針測試儀
產品型號：
更新時間：2023-12-03
產品特點：TH2661四探針測試儀(yi)，可(ke)測量片狀、塊狀半導(dao)體材(cai)(cai)料(liao)的(de)徑向和軸(zhou)向電阻(zu)(zu)率(lv)及擴(kuo)散層的(de)薄(bo)層電阻(zu)(zu)，適(shi)用于半導(dao)體和太陽能材(cai)(cai)料(liao)測試的(de)要(yao)求，也可(ke)對(dui)分(fen)立電阻(zu)(zu)進行測量，USB接口(kou)可(ke)為用戶(hu)提供遠(yuan)程控制(zhi)及測試數(shu)據的(de)統計(ji)和分(fen)析。
TH2661四探針測試儀的詳細資料：
TH2661四探針測試儀
TH2661型四探針測試儀性能特點
大屏幕液晶顯示
可手動或自動選擇合適的電流源量程
預設樣片厚度，自動修正，直讀電阻率
200個讀數存儲，可對存儲讀數求zui大...
0.5%基本精度，分辨率達0.01%...
自動關機功能
采用SMT表面貼裝工藝
電流源方向有正方向、反方向和正反方向...
報警門限預設，可用于HI PASS ...
USB通訊功能，可通過上位機軟件對手...
讀數穩定性好
電池(chi)及(ji)外接電源供電方式
TH2661型四探針測試儀簡要說明
TH2661四探針測試儀可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量，USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數據的統計和分析。 由于采用了電(dian)池和外接電(dian)源兩(liang)種供電(dian)方式(shi)，既能適應固定(ding)場合(he)對元器件進行檢測(ce)，又可(ke)隨身攜帶以滿足測(ce)試人員的現場測(ce)試要求(qiu)
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